Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, RRP process, irradiation effects, neutron irradiation, atom probe tomography, nanoscaled effects, pinning force, experimental results
Larbalestier D.C., Grovenor C.R., Tarantini C., Kametani F., Lee P.J., Balachandran S., Su Y., Moody M.P., Heald S.M., Wheatley L.
Grovenor C.R., Speller S., Gault B., Pedrazzini S., London A.J., Saxey D., Danaie M., Moody M.P., Edmondson P.D., Bagot P.A.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.